新型触摸面板检查仪 应对薄型化及高精细化趋势
作者:Touchscreen时间:2014-05-08 来源:投影时代
[摘要]全新的检查仪器,能够以光学方式使触摸面板使用的透明电极的电路图案可视化,从而精准检测缺陷位置和电路图案线宽测量,以应对触摸面板日益薄型化及高精细化的发展趋势,提升产品的成品率。该公司表示,该款产品将从今年9月开始销售,估计首年度的销量可达到10~15台。
北京时间05月08日消息,中国触摸屏网讯, 日前,大日本网屏制造公司对外宣布,公司推出了全新的检查仪器,能够以光学方式使触摸面板使用的透明电极的电路图案可视化,从而精准检测缺陷位置和电路图案线宽测量,以应对触摸面板日益薄型化及高精细化的发展趋势,提升产品的成品率。该公司表示,该款产品将从今年9月开始销售,售价为2000万日元,估计首年度的销量可达到10~15台。
本文来自:http://www.51touch.com/fixture/news/2014/0508/29762.html
据公司高层透露,此次的产品是用来查出缺陷位置、分析故障的离线机型,公司计划在2015年开发并推出具有生产线在线监控功能的后续机型。
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