北京时间04月25日消息，中国触摸屏网讯， 大日本萤幕製造公司开发出了检查仪新产品“TM-1C”，并于2014年4月21日举行了记者发佈会。该检查仪能以光学方式使触控面板等使用的透明电极的电路图桉可视化，能够确定缺陷位置，测量电路图桉的线宽。该产品将从2014年9月开始销售，估计首年度的销量可达到10～15台。售价为2000万日元。

    本文来自：http://www.51touch.com/fixture/news/2014/0425/29477.html

    对于功能日益提高的智慧手机及平板电脑等使用的触控面板，薄型化及高精细化方面的要求也越来越高。各触控面板厂商纷纷开始开发透明电极的电路图桉的微细化程度及透明度更高的触控面板，如何实现相关製造程序的稳定化、提高成品率也成为重要课题。以前，检测触控面板的透明电极缺陷时，只能採用成形后进行导通检查，或者使用雷射显微镜花费很长时间来确定缺陷位置的方法。而且，随着电路图桉的微细化程度及透明度的不断提高，查明缺陷原因变得越来越困难，业界对于可提高生产效率和成品率的检查装置的需求越来越高。

    大日本萤幕从两年前开始开发这种以光学方式使触控面板透明电极的电路图桉可视化，从而实现缺陷位置检测及电路图桉线宽测量的技术。此次，通过融合该公司的光学系统改进技术与图像处理技术，开发出了能够使具有多种图桉及光学条件的透明电极实现可视化的检查仪。以7吋平板电脑用触控面板（横170mm×纵120mm）为例，採用以前的雷射显微镜方法需要花费约100分钟，而此次的装置可在约15秒内完成扫描。而且，以前的方法很难在PET薄膜和保护屏黏合在一起的状态下进行品质管理，也很难检测到微细裂纹，而此次的检查仪都能做到。

    在记者发佈会上，大日本萤幕使用此次的装置进行了演示。而且，出席发佈会的大日本萤幕媒体与精密技术公司副社长山本均及商品开发统括部第三商品开发部部长藤原成章还提到了今后要推出的产品线。此次的产品是用来查出缺陷位置、分析故障的离线机型，该公司还计划在2015年开发并推出具有生产线在线监控功能的后续机型。

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